WLP-216平均粒度仪的优势特点众多，你不可错过！

　　WLP-216平均粒度仪是用于测量颗粒物质平均粒度的仪器，其工作原理主要基于筛分法、沉降法、激光散射法和显微镜法等方法。这些方法各有优缺点，需要根据实际需求选择合适的方法。随着科学技术的发展，其性能将不断提高，为各个领域的研究和应用提供更准确、更便捷的服务。
 

　　WLP-216平均粒度仪在结构上的特点主要体现在其简单性和高效性。这种仪器利用空气透过法或激光散射原理来测量粉末的平均粒径，具有高精度和良好的重复性：
 

　　-采用MIE散射原理，结合傅立叶变换光路和无约束自由拟合的数据处理软件，能够检测颗粒大小及分布。
 

　　-利用多角度散射技术和原位测量技术进行操作，提高测量的准确性和效率。
 

　　-仪器结构简单，操作方便，由于不受材料结团对测量的影响，测试的粒度重复性非常好。
 

　　-早期型号如WLP-202经改进升级为WLP-208，增加了压力校正器，提高了测量的精度和稳定性。
 

　　-根据不同的测试要求，分散系统分为湿法分散系统、干法分散系统和干湿一体分散系统，以适应不同的样品类型。
 

　　-测量范围广泛，覆盖了毫米、微米、亚微米及纳米多个波段，能够满足不同领域的需求。
 

　　-自1978年投产以来，由于其稳定的性能和较低的造价，被广泛应用于各种材料的粒度测量。
 

　　-新款粒度仪无需预热，开机即可测试，而老式粒度仪需开机预热15-20分钟，提高了使用便捷性。
 

　　-通过观测光强度并应用Fraunhofer衍射理论和Mie散射理论，能够准确计算出粒子径分布。
 

　　-简单的结构设计使得日常维护和故障排除变得更加容易，降低了长期运营成本。